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工業相機檢測Ic芯片表面多膠、臟污-度申科技
發布時間:2018-12-13
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     工業相機檢測Ic芯片表面多膠、臟污,同時檢測芯片表面與周邊的塑膠框架上是否有溢膠、臟污。由于塑膠框架的結構,故選擇出光均勻的球積分光源。
實物圖


效果圖
一尾中特平